歐陽R:13537229325

 

 

Anritsu MP2100B 誤碼儀 儀表即可測量光通信系統(tǒng)中評估光模塊和光器件所需的所有項(xiàng)目。

 

不同于傳統(tǒng)的系統(tǒng)在誤碼率測量和眼圖分析時(shí)需要兩臺測量儀器，現(xiàn)在只需一臺MP2100B即可支持所有必需的評估項(xiàng)目，由此減少儀器成本高達(dá)40％。此外，增加了光開關(guān)和光衰減器作為可選配件，使這個(gè)新版本成為評估多通道光模塊和光器件的 功能總體測量解決方案。

 

為了支持光模塊和器件制造市場需要更快的測量速度的需求，新的快速采樣模式速度可達(dá)150k采樣/秒來進(jìn)行眼圖分析，如眼圖模板測試比傳統(tǒng)型號快了1.5倍。此外，MP2100B內(nèi)置誤碼率測試儀（BERT）可升級到4通道，以實(shí)現(xiàn)多通道光模塊的同步BER測量，如QSFP+等，與傳統(tǒng)型號相比，可減少多達(dá)80％的測量時(shí)間。

 

安立公司希望其新發(fā)布的MP2100B能為制造商降低設(shè)備成本，縮短測量時(shí)間，從而降低的光模塊和光器件的制造成本。

 

[開發(fā)背景]

廣泛使用的云計(jì)算服務(wù)導(dǎo)致數(shù)據(jù)中心流量的 式增長，使增加數(shù)據(jù)中心的服務(wù)器和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的傳輸容量成為迫切需求。因此這也帶來對數(shù)據(jù)中心服務(wù)器和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備中使用光模塊的增長需求，尤其是10 GbE SFP+和40 GbE QSFP+ (10 Gbit/s × 4) 光模塊。

 

安立公司推出的BERTWave MP2100B可擴(kuò)展到4通道BERT測量，支持多通道光模塊如QSFP+等的高效評估。

 

[產(chǎn)品概要]

安立公司的BERTWave MP2100B是一款集所有功能于一身的測試儀表，集成BERT和采樣示波器用于光模塊的研發(fā)和生產(chǎn)。內(nèi)置12.5 Gbit/s的脈沖碼型發(fā)生器（PPG）和錯(cuò)誤檢測器（ED）可多支持4通道，而集成采樣示波器分別支持25 GHz和9 GHz的電子和光學(xué)帶寬。由于只需一臺MP2100B即可進(jìn)行高達(dá)4通道的同步BER測量和眼圖分析，使得多通道光模塊如QSFP+的測量更具成本效益。此外，新的快速采樣模式的速度高達(dá)150k采樣/秒，減少了眼圖測量時(shí)間。

 

PPG輸出的高質(zhì)量信號只有1ps抖動(dòng)和僅為24ps的Tr/Tf；ED的高小靈敏度達(dá)到10 mVp-p。 因此，MP2100B是用于光模塊和設(shè)備準(zhǔn)確評估的理想解決方案。

 

[主要特征]

 集成BERT和采樣示波器

以前的測量系統(tǒng)使用一個(gè)單獨(dú)的PPG作為信號源和采樣示波器用于眼圖分析，這不僅需要大的工作臺空間放置評估系統(tǒng)，也增加了將近一倍設(shè)備成本。 新發(fā)布的集所有功能于一身的MP2100B，集成了PPG和采樣示波器，降低了場地和設(shè)備成本。MP2100B機(jī)柜只有18厘米深，即使是擁擠的臺面也能放下，而集成BERT和采樣示波器支持同步BER測量和眼圖分析，削減了測量時(shí)間，減少光模塊和設(shè)備的檢查費(fèi)用。

 

 高速BER測量

可以設(shè)置并實(shí)現(xiàn)高達(dá)4通道的同時(shí)測量。

 

 高速眼圖模板測試

高達(dá)150k 采樣/秒，采樣使用新的內(nèi)置快速采樣模式，減少測試時(shí)間。

 

 支持電子和光接口

內(nèi)置的支持電子和光接口，減少了費(fèi)時(shí)的連接工序，如評估光模塊接收靈敏度時(shí)更換電纜。

 

 寬帶工作頻率

內(nèi)置支持從125 Mbit/s到12.5 Gbit/s的比特率的選件，這種集所有功能于一身的方案支持不同速率的應(yīng)用，包括STM-1到10 GbE。

 

 時(shí)鐘恢復(fù)功能

具備標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)置ED時(shí)鐘恢復(fù)功能，只需簡單地輸入數(shù)據(jù)信號即可進(jìn)行BER分析，無需外部時(shí)鐘。此外，安裝采樣示波器的時(shí)鐘恢復(fù)選件可進(jìn)行長距離傳輸和無時(shí)鐘輸出傳輸設(shè)備的光特性評估。

 

模板余量測試

自動(dòng)化模板余量測試，減少麻煩的程序和設(shè)置，只需約1秒就可快速完成所需的模板余量測試測量。

 

[目標(biāo)市場和應(yīng)用]

市場：光模塊，光器件，電纜和連接器制造商。

應(yīng)用：光模塊、光器件、電纜和連接器的研發(fā)和生產(chǎn)。