TESCAN SEM掃描電鏡
TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡（SEM）
掃描電子顯微鏡是一種眾所周知的無損分析技術，它使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像，廣泛應用于各個科學和工業(yè)領域。
TESCAN 提供各種樣品室大小和配置的高性能鎢燈絲掃描電子顯微鏡，以滿足特定的分析需求。
TESCAN VEGA 第四代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實時分析集成于同一個掃描窗口中。這種組合大大簡化了樣品表面形貌的采集及所含元素的數(shù)據(jù)分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成為質量控制、故障分析和研究實驗室中常規(guī)材料等檢測提供更高效的分析的解決方案。
適用領域
材料科學：鋼鐵及合金、聚合物及復合材料、土木工程和建筑材料、木材，紡織品及紙張
生命科學：生物醫(yī)學工程、制藥技術、植物和動物科學、環(huán)境和食品科學
地球科學：巖石學 & 礦物學、古生物學、礦物加工、廢物回收
突出特點
* 集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺，在 Essence™ 電鏡操控軟件的單一窗口中即可實現(xiàn) SEM 成像和元素成分分析。
* TESCAN 采用獨特的無機械光闌設計，采用實時電子束追蹤（In Flight Beam Tracing™）的技術，可幫助用戶快速獲得電鏡的良好成像及分析條件。
* 獨特的大視野光路（Wide Field Optics™）設計，最低至2倍的放大倍數(shù)，無需額外的光學導航攝像頭即可輕松、精確地實現(xiàn) SEM 導航。
* SingleVac™ 模式作為標準配置，為觀測不導電樣品和電子束敏感的樣品提供便利的分析利器。
* 采用 3D 電子束技術（3D Beam Technology ）可獲得實時立體成像。
* 在樣品臺及裝置的樣品運動過程中，Essence™ 3D防碰撞模塊可以直觀的顯示安裝腔室內的探測器及樣品臺的位置信息，提供良好的安全性的保護。
* 真空緩沖節(jié)能單元可顯著縮短機械泵的運行時間，提供環(huán)保、高經(jīng)濟效益的電子顯微鏡。
* 模塊化分析平臺，可選配集成多種類的探測器和附件（如陰極熒光探測器，水冷背散射電子探測器或拉曼光譜儀等）。
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