Agilent（安捷倫）回收E4991B阻抗分析儀回收

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描述


材料測(cè)量選件提供溫度特征分析功能（選件 007），并能夠直接得到介電常數(shù)和導(dǎo)磁率的讀數(shù)（選件 002）。
探頭臺(tái)連接套件（選件 010）可在高達(dá) 3 GHz 的頻率范圍內(nèi)提供精確的晶圓上或微型元器件阻抗測(cè)量解決方案。
E4991B 支持多款測(cè)試附件，因此能夠降低測(cè)量復(fù)雜性并提高可靠性。

無(wú)論您是從事研發(fā)、質(zhì)保還是質(zhì)檢工作，E4991B 都可以幫助您出色地表征和測(cè)試電子元器件、半導(dǎo)體器件和材料。

應(yīng)用示例：
無(wú)源元器件：電容器、電感器、鐵氧體磁珠、電阻器或晶體/陶瓷諧振器等芯片元器件的阻抗測(cè)量。
半導(dǎo)體元器件：變?nèi)荻O管的 C-V 特征分析和等效串聯(lián)電阻測(cè)量。
介電材料：塑料、陶瓷和印刷電路板的介電常數(shù)和損耗因數(shù)測(cè)試。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其他磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗因數(shù)測(cè)試。
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